Дифракционные методы исследования структур Д. М. Васильев

Дифракционные методы исследования структур Д. М. Васильев

By Домна 2 комментариев 15.08.2014

У нас вы можете скачать книгу Дифракционные методы исследования структур Д. М. Васильев в fb2, txt, PDF, EPUB, doc, rtf, jar, djvu, lrf!

Дифракционные методы исследования структур / Д. М. Васильев. Сохранено в: Вид документа: Книги. Автор: Васильев, Д. М. Опубликовано: М.: Металлургия, Физические характеристики: с.: ил. ; 22 см.  Дифракционные методы исследования кристаллов: лабораторный практикум для студентов физического факультета специальностей 04 02 "Физика твердого тела", 04 11 "Физика защитных покрытий" / В. М. Анищик [и др.]. - Минск: Белорусский государственный университет, - 82, [3] с., включая обложку Опубликовано: (). Опции поиска. История поисков. Васильев Д. М. Дифракционные методы исследования структур. Изложение основано на применении фурье-преобразования и операций типа свертки. Электронный каталог: Васильев, Д. М. - Дифракционные методы исследования структур. Васильев, Д. М. - Дифракционные методы исследования структур. Доступно 2 из 2. Книга Автор: Васильев, Д. М. Дифракционные методы исследования структур Издательство: Металлургия, г. ISBN отсутствует. Заказать. На полку. Книга УДК И Васильев, Д. М. Дифракционные методы исследования структур / Д. М. Васильев. – М.: Металлургия, – с. Тезаурус = ГАСНТИ Тезаурус = Физика: твердых тел: методы исследования кристаллической структуры и динамики решетки. Кх Кх. © Все права. Дмитрий Михайлович Васильев Дифракционные методы исследования структур: [Учеб. пособие для вузов по специальностям "Физ.-хим. методы исслед. процессов и материалов" и "Физика металлов"] / Д. М. Васильев ,[1] с. ил. 21 см. СПб. Изд-во СПбГТУ Открыть/Закрыть все. издания книги. Дифракционные методы исследования структур: [Учеб. пособие для вузов по специальностям "Физ.-хим. методы исслед. процессов и материалов" и "Физика металлов"] / Д. М. Васильев, ,[1] с. ил. 21 см., СПб. Изд-во СПбГТУ рубрики книги. Методы, основа. Дмитрий Васильев. Описание. Даны основные сведения о структуре твердых и жидких тел. Изложение теории дифракции на различных структурах построено с применением преобразования Фурье и некоторых интегральных преобразований. Последовательно описана дифракция на идеальных структурах и на структурах с дефектами, а также представлена методика извлечения значимой информации из наблюдаемой диф-ракционной картины. Для студентов металлургических и политехнических вузов, изучающих физическое материаловедение, физику металлов и физико-химические методы исследования материалов. 2-е издание, переработанное. Дифракционные методы исследования структур. Автор(ы): Васильев Д.М. Издание: Металлургия, Москва, г., стр., УДК: ; Язык(и). Русский. В книге излагаются физические основы дифракционных методов исследования кристаллических тел. Все изложение основано на применении Фурье-преобразования и операций типа свертки. Для усвоения материала требуется математическая подготовка в объеме обычного вузовского курса математики; дополнительные сведения по теории Фурье-преобразований, сингулярных функций и операций типа свертки приведены в начале книги. Дифракционные методы исследования структур. Автор: Васильев Д. М. Год: Издание: Издательство СПбГТУ Страниц: ISBN: Даны основные сведения о структуре твердых и жидких тел. Изложение теории дифракции на различных структурах построено с применением преобразования Фурье и некоторых интегральных преобразований. Последовательно описана дифракция на идеальных структурах и на структурах с дефектами, а также представлена методика извлечения значимой информации из наблюдаемой диф-ракционной картины. Дифракционные методы используются для исследования фазового состава и структуры кристаллических материалов. Они основаны на дифракции различных типов волн на периодической решетке кристалла. Кристалл при этом рассматривают как набор атомных плоскостей, от которых падающий луч отражается с соблюдением равенства углов падения и отражения. Дифракционные методы исследования структуры являются расчетными. В качестве исходной информации для расчета структуры используют дифракционную картину, получаемую экспериментально от изучаемого объекта. В электронографии используют электроны таких энергий, что они взаи-модействуют не с электронными оболочками атомов, а с электростатическими потенциальными полями φ (x, y, z), создаваемыми ядрами исследуемого веще-ства. Д. М. Васильев. Даны основные сведения о структуре твердых и жидких тел. Изложение теории дифракции на различных структурах построено с применением преобразования Фурье и некоторых интегральных преобразований. Последовательно описана дифракция на идеальных структурах и на структурах с дефектами, а также представлена методика извлечения значимой информации из наблюдаемой диф-ракционной картины. Для студентов металлургических и политехнических вузов, изучающих физическое материаловедение, физику металлов и физико-химические методы исследования материалов. Дифракционные методы исследования структур, Д. М. Васильев, Для техникумов и вузов. Все о книге.  Последовательно описана дифракция на идеальных структурах и на структурах с дефектами, а также представлена методика извлечения значимой информации из наблюдаемой диф-ракционной картины. Для студентов металлургических и политехнических вузов, изучающих физическое материаловедение, физику металлов и физико-химические методы исследования материалов. Обо всём этом и не только в книге Дифракционные методы исследования структур (Д. М. Васильев). Рецензии Отзывы Цитаты Где купить. Эти книги могут быть Вам интересны. Наиболее полные экспериментальные исследования структуры металлов и сплавов на атомном уровне (дефектов кристаллического строения), их фазового и химического составов проводятся дифракционными методами: рентгенографии и аналитической электронной микроскопии, включающей в себя просвечивающую электронную микроскопию, растровую электронную микроскопию и рентгеновский микроанализ. Для иллюстрации применения этих методов во второй части пособия рассматриваются вопросы использования кристаллографических проекций кристаллов средних сингоний, анализа дефектов упаковки и образующих их.